FTIR显微镜附件_傅立叶变换红外光谱仪显微镜_产品中心

FTIR显微镜附件

附件 Accessories

1：切片模板 SliceMaster

1）摘要

SliceMaster最初是为FTIR显微镜开发的，是一系列紧凑的精密切割工具，也可用于任何需要极薄样品截面的应用，如包装材料、薄膜、层压板或颗粒。SliceMaster是一种经济实惠的工具，可以重复切片而不会损坏样品。

灵活

四种不同的模型，可以用许多不同的材料在不同的角度制作切片，以制备显微镜样品。

低成本

作为更昂贵的切片机的替代品，SliceMaster可以重复切割薄片，而不会损坏样品。

简单安全操作

非常锋利的刀片被固定在安全防护装置后面，通过千分尺调整截

面厚度和手动切割动作，操作非常容易。

2）MODEL 模型

a、HW-1型多角度切片机 HW-1 Multi-Angle Slicer

最通用的切片机，具有从垂直到45°的可调角度。非常适合暴露多层层压板的表面，用于FTIR微观成像和测量。

b、TS-10颗粒切片机 TS-10 Pellet Slicer

多角度压片机（TabletMaster）包括一个特殊的支架，可以小心地夹住不规则大小的物体，如药片、种子、瓶盖和压片。样品被固定，使得刀片可以倾斜，以将暴露的表面切成平面或刮去薄的部分。

c、HS-1立式切片机 HS-1 Vertical Slicer

HS-1可以以90°的固定角度切割样品，可以切割的厚度取决于成分和硬度。

Fixed angle HS-1 Slicemaster

典型样品厚度
1000 μm	Polypropylene Bottles
800 μm	Multilayered Paper Cartons
600 μm	Polyethylene Tubes
400 μm	PET Bottles
200 μm	Polyester Cards
10 μm	Straws, Copy Paper, Polymide Sheets, etc.

d、HK-1斜角切片机 HK-1 Angled Slicer

HK-1固定式15º角切片机用于切割薄膜和层压板，以留下较宽的暴露表面，与45°截面相比，其表面积高达4倍。包括可拆卸样品支架。

Typical sample thickness
200 μm	Polyester Cards
160 μm	Coated Paper
120 μm	Thick Bags for Tea or Zip Locks*
80 μm	Hair, Instant/Snack Food Bags*
40 μm	Polypropylene Cartons 聚丙烯纸箱
10 μm	Polyvinyl Chloride and Polyvinylidene Chloride Wrappers, Polyethylene Bags, Aluminum Foil 聚氯乙烯和聚偏二氯乙烯包装、聚乙烯袋、铝箔
Polyethylene, Polypropylene, Polyester, Polyimide, Polyvinyl Alcohol, Polyvinyl Acetate, etc. 聚乙烯、聚丙烯、聚酯、聚酰亚胺、聚乙烯酒精、聚醋酸乙烯酯等。

2：DC-500金刚石压缩样品池

DC-500，金刚石压缩样品池，压缩厚/不均匀的样品进行测量。

用于测量固体样品的微样品（约20µm）

使用透明腔室进行宏观和微观测量

只需要两个螺钉即可压缩样本

优异的耐腐蚀性和非粘性，可以很容易地用丙酮等有机溶剂清洗

具有高精度的坚硬表面，因此可以进行研磨和轧制，以便于观察样品

3：ATR-5000-WG

为什么我应该使用ATR物镜进行IR显微镜检查？

二十多年来，使用衰减全反射（ATR）的测量附件大大减少了常规FTIR测量所需的样品制备量。在ATR被广泛使用之前，样品只能使用透射或反射进行测量，其中包括耗时的稀释、颗粒制造或漫反射测量。使用ATR并具有良好的晶体接触，几乎任何样品（固体、粉末液体或薄膜等）都可以在没有预处理的情况下进行测量。

Schematic of a microscope ATR Objective

红外显微镜在样品制备方面与常规宏观测量有相同的问题，但这些也可以通过使用ATR物镜以相同的方式进行补救。然而，在显微镜中，样本观察的附加元素产生了第二个重要的考虑因素——如何识别正确的测量位置？在透射或反射中，上卡塞格林通常用于在测量前观察样品，直到最近，还不可能“观察”ATR来观察样品，这意味着必须使用上面塞格伦或折射物镜进行观察，然后与ATR交换进行测量；在空间分辨率达到单微米的情况下，观测到的图像和测量到的图像之间的同步可能具有挑战性。

ClearView ATR目标

JASCO开发的独特的ClearView ATR克服了这一限制，现在可以通过ATR直接观察样本，然后将ATR移动到直接接触的位置进行测量。这种方法保证观察到的位置与生成化学图的测量位置精确匹配。视觉图像也可以精确地与化学图像重叠以产生合成图像。

Direct observation through a ClearView ATR

Chemical image overlaid with the visual image using an ATR Objective

ClearView ATR中用于棱镜的几种不同晶体材料可以分析不同的样品——不同的空间分辨率、穿透深度和波数范围。

Material 材料	Refractive Index 折射率	Magnification放大倍数	Wavenumber Range 波数范围	Area 面积
Diamond 金刚石	2.4	x35.2	7,000 to 700 cm-1	180μm x 180μm
Zinc Sulfide (ZnS) 硫化锌	2.2	x35.2	7,000 to 700 cm-1	180μm x 180μm
Germanium (Ge) Standard G45 锗（Ge）标准G45	4	x64	5,000 to 650 cm-1	70μm x 70μm
Germanium (Ge) MG 锗（Ge）MG	4	x16	5,000 to 650 cm-1	400μm x 400μm
Germanium (Ge) WG 锗（Ge）WG	4	x4	5,000 to 650 cm-1	1,600μm x 1,600μm

IQ映射

ATR测量的另一个缺点是需要紧密接触样品；从晶体传播的倏逝场需要相对较强的接触才能与样品表面的分子相互作用。如果样本很容易变形或可能移动，则映射可能会很困难。在透射矿石反射测量中，样品不与物镜直接接触，因此可以很容易地移动载物台来绘制区域，但在ATR中，必须将物镜移离样品以改变测量位置，这可能会导致材料形状的变化。

JASCO开发了IQ Mapping，以在ATR物镜的视场周围移动测量孔径。

不移动载物台，可以将IQ映射与ATR物镜一起使用，而是通过在晶体周围移动孔径来改变测量位置，同时仍与样品接触（如上图中的红色网格和黄色正方形所示）。

通常情况下，这给出了180μm x 180μm的典型测量面积，对于WG版本的ATR，测量面积可以高达1600μm x 1600μm，并且刀口孔径可以调整，以定义测量点的大小和形状。

Cross section analysis of paper pack using an ATR