FT/IR-8X红外光谱仪

         FT/IR-8X是JASCO最先进的FTIR光谱仪，迄今为止具有优异的信噪比（55000:1）和最高的分辨率（0.07cm-1）。

        8X是一种高度可配置的光学系统，几乎适用于任何FTIR应用，从简单的中红外测量到更复杂的近红外和远红外分析。基于研究的测量可以使用FT/lR-8X光谱仪轻松进行，该光谱仪具有发射端口光学器件、外部探测器、全真空、步进扫描和FT-Raman等选项。

        用户可更换的组件与全自动化相结合，可以在不接触系统的情况下进行25000cm^-1至20cm^-1以下的光谱测量。

• 多种探测器Multi Detector

        用户可更换分束器和窗片

        可扩展波长范围

        标准光谱仪使用具有KRS-5窗片的Ge/KBr分束器和DLaTGS探测器（也具有KRS-5窗片），光谱范围为7800至350cm^-1。有多种选项可选择部分或全部光谱范围25000至20cm^-1，包括自动分束器和窗片更换，无需接触系统。通过最广泛的光学材料选择，可以使用最少数量的组件覆盖较宽的光谱范围，包括覆盖中红外到远红外的新型宽带分束器、窗片和探测器材料的组合。

• 氮气吹扫和排空 Nitrogen Purge and Evacuation

        多区域N2吹扫系统作为标准，以最大限度地减少环境气体和蒸汽的干扰（还包括CO2和H20消除算法）。干涉仪、样品室和检测器区域都可以在全真空或部分真空仪器中独立排空（有助于快速加载样品），以完全消除CO2和H20，用于最灵敏的样品测量，并且由于移动镜不依赖于空气轴承，因此可以很容易地保持真空。

• 发射端口和外部光源的测量与鉴定

        FT/IR-8X对于具有一系列窗片材料的光学端口有多种选择，用于测量外部光源和黑体设备。平行光束可以从仪器中射出，以便在外部样品室中进行测量。

• 快速扫描和步进扫描Rapid Scan and Step Scan

        快速扫描提供高达40Hz的光谱采集。步进扫描（8X可选）与匹配的高速pv-MCT探测器相结合，在1毫秒（1000 Hz）或10纳秒（100MHz）下提供两种不同的光谱采集速率。使用波幅或相位调制和时间分辨。

• 系统特点System Features

▼镀金光学器件

▼高输出陶瓷源、Ge/KBr分束器和DLaTGS探测器。

▼HeNe定时激光器

▼用于黑体测量、外部光表征等的发射端口光学器件。

▼具有IQX配件识别功能的全系列取样配件

▼防振光学工作台

▼大型样品室

▼具有自动校准功能的（角隅棱镜）反射镜，可优化光通量

▼可吹扫和真空的样品室和光学台

▼探测器：光电二极管、DLaTGS、InGaAs、InSb、MCT和He-cooled Bolometers

▼分束器材料范围，可手动或自动更换

▼可选的FTIR显微镜和IR Imaging ，用于微观和宏观测量

▼快速扫描和步进扫描（微秒或纳秒）

▼波数扩展选项（25000至10 cm^-1）

▼振动圆二色性（VCD）选项

▼FT-Raman 选项

• 使用Spectra Manager Suite 2.5进行有效的数据分析

        FT/IR-8X由Spectra Manager™ 控制跨平台软件。Spectra Manager™ 包括光谱测量、快速启动、光谱比较和定量分析作为标准功能。使用KnowItAll JASCO版本信息系统进行数据库检索和分析。

        样品测量屏幕可以根据用户要求进行定制，定制的屏幕和参数可以保存以备将来使用（用户自定义软件功能）。

        Spectra Manager™的高级测量屏幕

▼序列Sequence

        显示测量参数和数据采集/光谱处理序列。

▼结果显示Results Display

        诸如光谱比较和样品定量的数据分析结果被显示并且容易获得。

▼实时监控Real-Time Monitoring

        实时数据处理功能可用于在测量期间验证当前频谱。在样本测量期间，存储在缩略图中的光谱也可以与当前光谱叠加。

▼缩放Zoom

        使用缩放功能可以很容易地检查目标峰值和功能组信息。

▼缩略图Thumbnail

        测量的光谱可以作为缩略图存储在缩略图窗片内。缩略图可以单独选择并在“光谱”视图中查看。

▼实时数据处理Real-Time Data Processing

        在开始样本测量之前，可以通过在预览窗片中检查实时数据处理的结果来验证数据处理过程。