FT/IR-6X红外光谱仪

        带有28度迈克尔逊干涉仪和二极管激光器的FT/IR-6X FTIR光谱仪是要求更高的研究应用的绝佳选择，拥有更好的偏振性能或更灵活的样品和测量方法。

        可配置光学系统适用于几乎任何FTIR应用，从简单的中红外测量到更复杂的近红外和远红外分析。基于研究的测量可以使用FT/IR-6X或FT/IR-8X光谱仪轻松进行，该光谱仪具有全真空、镀金光学、快速和步进扫描以及FT-Raman等选项。

        用户可更换的组件与全自动化相结合，可以在不接触系统的情况下进行25000 cm^-1至20 cm^-1以内的光谱测量。FT/IR-6X和FT/IR-8X光谱仪与一系列真空和可配置的发射端口兼容，可在样品室外进行实验，还可与全套的红外显微镜结合应用。

• 多种探测器Multi Detector

        用户可更换分束器和窗片

• FT/IR-6X傅立叶变换红外光谱仪

        FTIR光谱仪的FT/lR-6X是研究应用最合适的，具有优异的信噪比（47000:1）。测量波数范围可以配置为25000至20 cm^-1，并且具有高分辨率（0.25 cm^-1）。

• 波长范围Wavelength Range

        标准光谱仪使用具有KRS-5窗片的Ge/KBr分束器和具有KRS-5窗片的DLaTGS探测器，光谱范围为7800至350 cm^-1。有多种选项可扩展光谱范围为25000至10 cm-1，包括自动分束器和窗片更换，无需接触系统。通过最广泛的材料选择，可以使用最少数量的组件覆盖较宽的光谱范围，包括覆盖中红外到远红外的新型宽带分束器、窗片和探测器材料的组合。

• 氮气吹扫和排空 Nitrogen Purge and Evacuation

        多区域N2吹扫系统是标准配置。这可用于最大限度的减少来自环境气体和蒸汽的干扰（还包括CO2和H20消除算法）。作为一种选择，干涉仪、样品室和检测器区域都可以在全真空或部分真空仪器中独立排空（有助于快速加载样品），以完全消除CO2和H20，用于最灵敏的样品测量，并且由于移动镜不依赖空气轴承，因此可以很容易地保持真空。

• 发射端口和光源简介 Emission Ports and Light Introduction

        FT/IR-6X具有多种光学端口选项，具有一系列窗片材料，用于测量外部光源和黑体设备。

• 快速扫描Rapid Scan

        快速扫描提供高达40Hz的光谱采集。

• 6X系统特点System Features

▼铝制光学器件

▼长寿命VCSEL激光二极管（可选HeNe）

▼高输出陶瓷源、Ge/KBr分束器和DLaTGS探测器。

▼用于黑体测量、外部光表征等的发射端口光学器件。

▼具有IQX配件识别功能的全系列取样配件

▼防振光学工作台

▼大型样品室

▼具有自动对准功能的角隅棱镜可优化光通量

▼可吹扫和真空的样品室和光学台

▼可选检测器包括光电二极管、DLaTGS、InGaAs、InSb、MCT、硅辐射热检测器

▼分束器材料范围，可手动或自动更换

▼可选的FTIR显微镜和IR Imaging ，用于微观和宏观测量

▼快速扫描

▼波数扩展选项（25000至20 cm^-1）

▼振动圆二色性（VCD）可选

▼使用Spectra Manager Suite 2.5进行有效的数据分析

        FT/IR-6X由Spectra Manager™ 跨平台软件控制。Spectra Manager™ 包括光谱测量、快速启动、光谱比较和定量分析作为标准功能。使用KnowItAll JASCO版信息系统进行数据库检索和分析。

        样品测量屏幕可以根据用户要求进行定制，定制的屏幕和参数可以保存以备将来使用（用户自定义软件功能）。

• Spectra Manager™的高级测量屏

▼序列Sequence

        显示测量参数和数据采集/光谱处理序列。

▼结果显示Results Display

        例如光谱比较和样品定量的数据分析结果被显示并且容易或得。

▼实时监控Real-Time Monitoring

        实时数据处理功能可用于在测量期间验证当前频谱。在样本测量期间，存储在缩略图中的光谱也可以与当前光谱叠加。

▼缩放Zoom

        使用缩放功能可以很容易地检查目标峰值和功能组信息。

▼缩略图Thumbnail

        测量的光谱可以作为缩略图存储在缩略图窗片内。缩略图可以单独选择并在“光谱”视图中查看。

▼实时数据处理

        在开始样本测量之前，可以通过在预览窗片中检查实时数据处理的结果来验证数据处理过程。